16 Noi Analiza de faza calitativa si cantitativa pe probe solide policristaline sau pulberi prin difractie de radiatii X
Un centru de cercetare universitar ofera un serviciu complex vizand caracterizarea materialelor prin difractie de radiatii X.
Aspectul inovativ
Difractia de radiatii X este una dintre metodele deja clasice de caracterizare a materialelor. Echipamentul care doteaza laboratorul nostru poate fi utilizat la caracterizarea materialelor policristaline (nu si a monocristalelor) aflate in stare solida. Difractometrul foloseste ca surse de radiatii X tuburi inchise cu anozi de Mo, Cu sau Cr (deci trei lungimi de unda diferite). Radiatia Kβ este eliminata prin folosirea unui filtru metalic. Pentru radiatia CuKα avem si un monocromator pentru fasciculul difractat. Detectia radiatiilor X difractate se realizeaza cu ajutorul unui detector cu scintilatie. Goniometrul este orizontal si are patru rotatii si o translatie motorizate si conduse prin soft, plus inca doua translatii manuale. Pentru analiza de faza se foloseste geometria Bragg-Brentano (sau Theta: 2Theta). Achizitia si prelucrarea datelor se realizeaza computarizat. Determinarea fazelor cristaline se face prin compararea figurilor de difractie experimentale cu liniile de difractie dintr-o baza de date. In functie de gradul de cristalizare al probei, o analiza de faza calitativa poate fi efectuata intr-un interval de timp de la citeva minute pina la citeva ore. Rezultatele se comunica beneficiarului in format electronic si/sau pe hartie.
Domeniile de aplicare
Industrie si cercetare in domeniile: fizica, chimie, materiale de constructii, metalurgie, mediu, daca este necesar studiul unor probe solide policristaline/pulberi
Stadiul actual de dezvoltare
Laboratorul este autorizat si functioneaza din anul 2002. Temele de cercetare si serviciile s-au desfasurat in cadrul unor parteneriate cu universitati si institute de cercetare din tara (in mare majoritate cu finantare publica).
Proprietate intelectuală
O cerere de brevet in Romania